Hsiuping University of Science and Technology Institutional Repository : Item 310993100/1372
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题名: Characterization of ultra-thin electroless barriers grown by a self-aligned deposition process on silicon-based dielectric films
作者: S. T. Chen;G. S. Chen
日期: 2004
上传时间: 2009-02-03T07:00:47Z
關聯: J. Electrochem. Soc. 151, D99－D105. (SCI)
显示于类别:[電子工程系] 期刊論文

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