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http://ir.hust.edu.tw/dspace/handle/310993100/1754
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| 題名: | (Ln/sub 1-x/AxMn/sub 1-y/ByO/sub 3/)磁傳輸特性及多層膜交換偏壓機制的探討 |
| 作者: | 陳宏仁 |
| 貢獻者: | 修平技術學院電機工程系 |
| 關鍵詞: | 類鈣鈦礦;龐磁阻;磁傳輸;耦合機制;鐵磁;反鐵磁;多層膜;交換偏壓;晶界;載子傳輸 |
| 日期: | 2005-10-27
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| 上傳時間: | 2009-10-28T03:49:42Z
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| 摘要: | 我們對類鈣鈦礦結構龐磁阻 (Ln, A)-(Mn, B)-O3 (Ln=La, Pr, Nd, Y, Sm, Gd, A=Ca, Sr, Pb； B=Fe, Co, Ni)系列的塊材樣品系統性研究其微結構、磁性及電性研究，並已獲得很不錯的研究成果。在以往研究中關於塊材樣品的磁傳輸及磁電耦合機制尚未完全完整的建立，所以這方面的研究將持續進行著。此外，將使用我們已具有的磁控濺鍍技術來成長高品質的」鐵磁性(FM)/反鐵磁性(AFM)雙層膜」，並深入探討其短程耦合交換作用，同時進行」鐵磁性(FM)/順磁性(PM)/反鐵磁性(AFM)」多層膜成長，也探討其長短程耦合交換作用的物理機制，進而探討多層膜結構對外加變因的響應，終至製作並研究自旋閥及龐磁阻性讀取頭與磁性隨機存取記憶體。本計劃未來研究重點可分成下列方向： 1. 使用傳統燒結法製作不同組成的系列塊材樣品。 2. 建立鐵磁(FM)/反鐵磁(AFM)，鐵磁(FM)/非磁性(NM)/鐵磁及鐵磁(FM)順鐵磁(PM)/ 反鐵磁(AFM)多層薄膜成長技術。 3. 依據X-ray 繞射量測資料，使用Rietveld refinements 分析決定塊材及薄膜樣品的晶格結構。 4. 對各種組成的塊材及薄膜樣品作磁性及電性的量測與分析，並建立塊材樣品的磁傳輸機制。 5. 探討薄膜厚度與介面應力、平整度、耦合交換作用的關連性。 6. 由交換偏壓偏移的效應，探討薄膜介面間的耦合交換能與物理機制。尋求最理想的 AFM 層，使具有較高的偏移交換能、應用溫度及較低臨界厚度。 7. 使用溶膠-凝膠法製作CMR 奈米級粉末混合傳統燒結合法製成之CMR 粉末，探討其物磁電性及晶界載子傳輸特性。 ;計畫編號:NSC93-2112-M164-002;研究期間:200408~200507 |
| 顯示於類別: | [電機工程系(含碩士班)] 研究計畫
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描述 |
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