Hsiuping University of Science and Technology Institutional Repository : Item 310993100/3497
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Title: 以光學斷層掃瞄法逆算三維分佈的熱輻射性質
Authors: 歐乃瑞
Contributors: 修平技術學院機械工程系
Keywords: 三維非均勻性介質
消散係數
散射比
相含數
修正離散方向法
Date: 2009-09
Issue Date: 2013-08-13T02:30:46Z
Abstract: 本文以求解精確的輻射傳遞的積微分方程式為基礎,發展在完全的散射模式下,可同時逆算三維圓柱介質之吸收、散射性質及相函數的程式。我們以修正的離散方向法,求解柱狀介質受到側邊平行入射的正算問題,以所得的輻射熱通量為模擬量測值,並用它與估算的輻射性質所求得的輻射熱通量之間的均方差,形成目標函數,然後再最小化此目標函數來逆算介質的性質。本文以Levenberg-Marquardt法來求解各個例子的最小均方問題。由結果得知,估算散射比所產生的誤差並不會導致增加估算消散係數產生的誤差。在三維的例子中,當能量從兩端散失不嚴重,且相關熱輻射性質z 軸變化不顯著時,以二維的程式來逆算三維的例子,也可得到相當準確的結果,同時可以節省大量的運算時間。量測誤差的增加,會增加對散射比及消散係數的逆算結果的誤差的增加,然而,對相函數的逆算結果,顯得受量測誤差影響較少,也就是較不敏感。
Relation: 修平學報 19, 217-238
Appears in Collections:[Department of Mechanical Engineering & Graduate Institute of Precision Machinery and Manufacturing Technology] Journal

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