English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 4343/7642
造訪人次 : 3703016      線上人數 : 436
RC Version 3.2 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 進階搜尋

請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.hust.edu.tw/dspace/handle/310993100/558

題名: 雙極電晶體結構之電壓峰值檢知器 BJT PEAK VOLTAGE DETECTOR
作者: 蕭明椿
貢獻者: 修平技術學院
日期: 2005-03-16
上傳時間: 2008-11-06T08:21:44Z
摘要: 本發明提出一種具雙極電晶體結構之電壓峰值檢知器,其係由一參考電流產生器1、一具單邊負載電晶體之差動放大器2、一充電電晶體3、一補償電流產生器4、一電容器C、一第二電阻器R2以及一輸出級5所組成,其中,參考電流產生器1係用以提供一參考電流,且藉由電流鏡之鏡射,以提供差動放大器2、補償電流產生器4、以及輸出級5所需之電流,該差動放大器2係做為比較器使用,該充電電晶體3係做為充電器使用,用以提供電容器C所需之充電電流,該補償電流產生器4用以產生一補償電流,以有效補償電容器因雙極電晶體之基極電流所造成之電壓降,而該輸出級5則用以調整該電容器C上之電壓信號V(C),以便精確地輸出該輸入信號之峰值電壓。本發明所提出之電壓峰值檢知器,不但能精確地檢測出輸入信號之峰值電壓,並且兼具電路結構簡單、佔用的晶片面積小以及有利於裝置之小型化等多重功效,同時亦設置有輸出級以便有效防止因外部電路之擷取動作而遭致破壞所保持之輸入峰值電壓。此外,本發明之電壓峰值檢知器亦能有效消除差動放大器之超量電壓效應。
顯示於類別:[電機工程系(含碩士班)] 專利

文件中的檔案:

檔案 描述 大小格式瀏覽次數
200510730-1.pdf287KbAdobe PDF248檢視/開啟
200510730-2.pdf60KbAdobe PDF251檢視/開啟
200510730-4.pdf191KbAdobe PDF330檢視/開啟

在HUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

 


DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋