English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 4334/7631
造訪人次 : 3207506      線上人數 : 170
RC Version 3.2 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 進階搜尋

請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.hust.edu.tw/dspace/handle/310993100/7610

題名: 建置奈米薄膜及奈米柱陣列量測技術
作者: 潘泓宇
李亮
戴銘漢
蔡秉翰
貢獻者: 電子工程系
關鍵詞: ZNO
氧化鋅
奈米柱
奈米薄膜
日期: 2021-06
上傳時間: 2021-08-30T03:47:36Z
摘要: 當初在做這個專題前我們組員都對於氧化鋅的量測頗有興趣，我們利用三年級上下學期的時間跟學長討教有關於氧化鋅奈米薄膜和奈米柱陣列的原理和特性量測，上學期我們做好機台基本的操作流程的圖和資料的建檔，下學期負責機台的操作和製作成影片檔，將實驗室中製程及量測設備操作步驟全部電腦建檔數位語音化。
顯示於類別:[電子工程系] 學生專題

文件中的檔案:

沒有與此文件相關的檔案.

在HUSTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

 

DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋