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http://ir.hust.edu.tw/dspace/handle/310993100/3497
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| 題名: | 以光學斷層掃瞄法逆算三維分佈的熱輻射性質 |
| 作者: | 歐乃瑞 |
| 貢獻者: | 修平技術學院機械工程系 |
| 關鍵詞: | 三維非均勻性介質
消散係數
散射比
相含數
修正離散方向法 |
| 日期: | 2009-09
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| 上傳時間: | 2013-08-13T02:30:46Z
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| 摘要: | 本文以求解精確的輻射傳遞的積微分方程式為基礎，發展在完全的散射模式下，可同時逆算三維圓柱介質之吸收、散射性質及相函數的程式。我們以修正的離散方向法，求解柱狀介質受到側邊平行入射的正算問題，以所得的輻射熱通量為模擬量測值，並用它與估算的輻射性質所求得的輻射熱通量之間的均方差，形成目標函數，然後再最小化此目標函數來逆算介質的性質。本文以Levenberg-Marquardt法來求解各個例子的最小均方問題。由結果得知，估算散射比所產生的誤差並不會導致增加估算消散係數產生的誤差。在三維的例子中，當能量從兩端散失不嚴重，且相關熱輻射性質z 軸變化不顯著時，以二維的程式來逆算三維的例子，也可得到相當準確的結果，同時可以節省大量的運算時間。量測誤差的增加，會增加對散射比及消散係數的逆算結果的誤差的增加，然而，對相函數的逆算結果，顯得受量測誤差影響較少，也就是較不敏感。 |
| 關聯: | 修平學報 19, 217-238 |
| 顯示於類別: | [機械工程系(含精密機械與製造科技碩士班)] 期刊論文
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